測(cè)溫儀表

• 接觸式測(cè)溫裝置：測(cè)溫元件與被測(cè)對(duì)象直接接觸，通過熱交換進(jìn)行測(cè)溫。
• 熱膨脹式(水銀、雙金屬、液體、氣體等)。
• 壓力式。
• 熱電阻式(鉑、鎳、銅、半導(dǎo)體等)：材料的電阻隨溫度的變化而變化，利用這個(gè)特性，可以將溫度轉(zhuǎn)換成為電量。

        熱電偶式(鎳鉻-考銅、鎳鉻-鎳硅、鉑銠-鉑等)：基于熱電效應(yīng)進(jìn)行測(cè)量，即兩種不同材料的導(dǎo)體組成回路時(shí)，若兩端溫度不同，則產(chǎn)生感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)，其大小與材料以及兩端溫差有關(guān)。當(dāng)材料確定時(shí)，熱電動(dòng)勢(shì)只是被測(cè)溫度的函數(shù)而與直徑、長度無關(guān)。

　　非接觸式測(cè)溫裝置：輻射***溫計(jì)、光學(xué)***溫計(jì)、比色***溫計(jì)和紅外測(cè)溫儀器。

　　紅外測(cè)溫儀器由紅外探測(cè)器、紅外光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)處理系統(tǒng)以及顯示系統(tǒng)等組成。

　　常用的紅外測(cè)溫儀器有：紅外測(cè)溫儀和紅外熱像儀(可測(cè)溫度在物體表面或空間的分布情況)。

　　紅外測(cè)溫儀器的核心是紅外探測(cè)器，它能將入射的紅外輻射轉(zhuǎn)變?yōu)殡娔芑?其它能量。按照輻射響應(yīng)方式的不同，分為光電探測(cè)器和熱敏探測(cè)器兩類。

　　紅外光學(xué)系統(tǒng)有反射式、折射式和折-反射式。

　　常用的紅外測(cè)溫儀器有：紅外測(cè)溫儀和紅外熱像儀。后者可以測(cè)量溫度在物體表面或空間的分布情況。被測(cè)對(duì)象的紅外輻射經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)匯聚、濾波、聚焦到紅外探測(cè)器上，再由光學(xué)--機(jī)械掃描系統(tǒng)將對(duì)象觀測(cè)面上各點(diǎn)的紅外輻射通量按時(shí)間順序排列，經(jīng)過紅外探測(cè)器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娒}沖，通過視頻信號(hào)處理送到顯示器顯示出熱像。

　　通過測(cè)溫測(cè)量所能發(fā)現(xiàn)的常見故障有軸承損壞、流體系統(tǒng)故障、發(fā)熱異常、污染物質(zhì)積聚、保溫材料損壞、電器元件故障、非金屬部件的故障、機(jī)件內(nèi)部缺陷、裂紋探測(cè)等。